图书介绍

MOS VLSI分析与设计【2025|PDF下载-Epub版本|mobi电子书|kindle百度云盘下载】

MOS VLSI分析与设计
  • 高保嘉编著 著
  • 出版社： 北京：电子工业出版社
  • ISBN：7505382845
  • 出版时间：2002
  • 标注页数：280页
  • 文件大小：13MB
  • 文件页数：288页
  • 主题词：

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图书目录

第1章 VLSI工艺技术1

1．1 MOS工艺发展概况1

1．2 NMOS工艺技术3

1．3 CMOS工艺技术4

第2章 MOS晶体管10

2．1 MOS晶体管结构与工作原理10

2．2 MOS器件电流电压方程11

2．3 MOS晶体管器件参数13

2．4 小尺寸MOS器件18

2．5 MOS晶体管模型24

2．6 等比例缩小原理34

2．7 MOS晶体管限制36

第3章 版图设计40

3．1 设计规则40

3．2 Stick图43

3．3 版图设计45

3．4 版图验证49

第4章 数字电路设计基础51

4．1 MOS反相器静态特性51

4．2 MOS反相器瞬态分析59

4．3 MOS反相器最佳设计64

4．4 驱动大电容负载的最佳延迟时间66

4．5 延迟模型67

4．6 功牦估算72

第5章 MOS数字电路76

5．1 NMOS基本逻辑电路76

5．2 CMOS基本逻辑电路85

5．3 VLSICMOS逻辑组态94

5．4 加法器和乘法器99

5．5 规则逻辑结构105

5．6 ROM110

5．7 RAM119

5．8 时钟电路129

5．9 CPU电路135

第6章 MOS模拟集成电路141

6．1 MOS晶体管小信号模型及其等效电路141

6．2 基本的MOS模拟电路144

6．3 CMOS运算放大器160

6．4 动态模拟电路169

6．5 A/D转换器电路173

6．6 开关电容滤波器186

第7章 ASIC设计技术200

7．1 VLSI与ASIC200

7．2 门阵列设计技术201

7．3 激光门阵列技术209

7．4 标准单元设计技术211

7．5 积木块设计技术215

7．6 可编程逻辑器件(PLD)218

7．7 片上系统集成(SOC)技术227

8．1 VHDL和逻辑综合231

第8章 IC CAD技术231

8．2 逻辑模拟和电路模拟233

8．3 版图设计与验证237

8．4 ASIC EDA技术239

8．5 单元库建库244

第9章 可测性设计(DFT)技术247

9．1 可测性设计的基本概念247

9．2 分块测试技术251

9．3 扫描测试技术253

9．4 自测试技术256

9．5 边界扫描技术260

第10章 可靠性设计技术263

10．1 可靠性设计物理263

10．2 抗静电设计266

10．3 提高电路可靠性的设计规则和设计方法268

10．4 抗辐照设计技术270

10．5 电路可靠性设计技术274

10．6 容错设计技术275

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