图书介绍

专用集成电路设计基础教程【2025|PDF下载-Epub版本|mobi电子书|kindle百度云盘下载】

来新泉主编著
出版社：西安：西安电子科技大学出版社
ISBN：9787560620886
出版时间：2008
标注页数：220页
文件大小：36MB
文件页数：228页
主题词：集成电路－电路设计－高等学校－教材

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图书目录

第1章专用集成电路概述1

1.1集成电路的发展1

1.2集成电路的分类2

1.2.1按集成规模分类2

1.2.2按制作工艺分类3

1.2.3按生产形式（按适用性）分类4

1.2.4按设计风格分类4

1.2.5按用途分类5

1.3 ASIC及其发展趋势5

1.4专用集成电路设计流程6

第2章集成电路的基本制造工艺及版图设计11

2.1集成电路的基本制造工艺12

2.1.1双极工艺14

2.1.2 CMOS工艺18

2.1.3 BiCMOS工艺23

2.2集成电路的封装工艺26

2.2.1集成电路的封装类型26

2.2.2集成电路封装工艺流程27

2.2.3封装材料28

2.2.4互连级别28

2.2.5在封装中对于热学方面问题的考虑29

2.3集成电路版图设计30

2.3.1版图概述30

2.3.2版图设计规则30

2.3.3版图检查与验证34

2.3.4IC版图格式36

第3章器件的物理基础及其SPICE模型39

3.1 PN结39

3.1.1 PN结的形成39

3.1.2 PN结的理想伏安特性40

3.1.3 PN结的单向导电性40

3.2有源器件42

3.2.1双极型晶体管及其SPICE模型42

3.2.2 MOS晶体管及其SPICE模型48

3.3无源器件53

3.3.1电阻及其SPICE模型53

3.3.2电容及其SPICE模型58

3.3.3集成二极管及其SPICE模型60

3.4模型参数提取62

第4章数字集成电路设计技术64

4.1 MOS开关及CMOS传输门64

4.1.1 MOS开关64

4.1.2 CMOS传输门66

4.2 CMOS反相器67

4.2.1 CMOS反相器的工作原理68

4.2.2 CMOS反相器的直流传输特性69

4.2.3 CMOS反相器的静态特性71

4.2.4 CMOS反相器的动态特性74

4.2.5 CMOS反相器的功耗和速度76

4.2.6 MOS反相器78

4.3 CMOS组合逻辑79

4.3.1 CMOS与非门79

4.3.2 CMOS或非门82

4.3.3 CMOS与或非门84

4.3.4 CMOS组合逻辑门电路设计方法85

4.4触发器87

4.4.1 RS触发器87

4.4.2D触发器89

4.4.3施密特触发器92

4.5存储器95

4.5.1随机存取存储器（RAM）95

4.5.2只读存储器（ROM）100

第5章模拟集成电路设计技术103

5.1电流源103

5.1.1双极型电流源电路103

5.1.2 MOS电流源108

5.2差分放大器110

5.2.1双极IC中的放大电路111

5.2.2 CMOS差动放大器116

5.3集成运算放大器电路128

5.3.1双极集成运算放大器128

5.3.2 CMOS集成运算放大器132

5.3.3集成运算放大器的主要性能指标136

5.4比较器137

5.4.1比较器的基本特性138

5.4.2两级开环比较器141

5.4.3其他开环比较器145

5.4.4开环比较器性能的改进147

5.5带隙基准154

5.5.1基本原理分析154

5.5.2实际电路分析156

5.6振荡器157

5.6.1概述157

5.6.2环形振荡器158

5.6.3压控振荡器（VCO）159

第6章专用集成电路设计方法162

6.1全定制设计方法（Full－Custom Design Approach）162

6.2半定制设计方法（Semi－Custom Design Approach）163

6.2.1标准单元设计方法163

6.2.2门阵列设计方法166

6.2.3标准单元法与门阵列法的比较169

6.2.4设计实例171

6.3可编程逻辑器件（PLD）设计方法174

6.3.1概述174

6.3.2 PLD的结构与分类174

6.3.3宏单元设计方法177

6.3.4设计流程178

6.4现场可编程门阵列（FPGA）设计方法179

6.4.1现场可编程门阵列（FPGA）的基本组成179

6.4.2现场可编程门阵列（FPGA）的优点及设计过程180

6.5不同设计方法的比较180

第7章专用集成电路测试与可测性设计183

7.1测试的重要性183

7.2故障模型与模拟184

7.2.1故障模型184

7.2.2故障模拟186

7.3可测性设计187

7.3.1针对性（Ad Hoc）测试法189

7.3.2基于扫描的测试技术190

7.3.3内建自测试（BIST）技术193

7.4自动测试模板生成196

第8章专用集成电路计算机辅助设计简介197

8.1概述197

8.2专用集成电路CAD工具简介200

8.2.1 Cadence200

8.2.2 Tanner Tools210

参考文献218